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电子元器件发展史其实就是一部浓缩的电子发展史。电子技术是十九世纪末、二十世纪初开始发展起来的新兴技术，二十世纪发展迅速，应用广泛，成为近代科学技术发展的一个重要标志。

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测试 BGA器件连接点的物理特性和确定如何才能始终如一地在装配工艺过程中形成可靠连接的能力，在开始进行工艺过程研究期间显得特别的重要。这些测试所提供的反馈信息影响到每个工艺过程的调整，或者要变动焊接点的参数。

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仅有横截面X射线检测技术，例如:X射线分层法，能够克服上述条件的制约。横截面X射线检测技术具有能够查出隐藏的焊接点缺陷的能力，通过对焊盘层焊接点的聚焦，能够揭示出BGA焊接点的连接情况。在同样的情况下，采用X射线设各所获得的图像中，实际情况可能被隐藏掉了，从而不能够反映出真实的情况。TBGA(载带型焊球数组)封装TBGA（TapeBallGridArray）是一种有腔体结构，TBGA封装的芯片与基板互连方式有两种：倒装焊键合和引线键合。

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超过三个图像切片就能够获得不可拆BGA的焊接点情况，“印刷电路权焊料切片”中心***于印刷电路板焊盘界面上，低共熔点焊料焊接轮廓内，“焊料球切片”中心***引线焊球(lead solder ball)内，“元器件焊盘切片”中心***于元器件界面的低共熔点焊料焊接轮廓线内。可拆卸BGA焊接点，通过两个或者更少的图像“切片”就可以反映其全部特征，图像“切片”中心可以定价于印刷电路板的焊盘界面处，也可以是在元器件界面处或者仅仅是在元器件和印刷电路板之间的一半位置处。若此值很大甚至无穷大，表明光敏电阻内部开路损坏，也不能再继续使用。